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聚乙烯与聚酯等树脂薄膜（以下简称薄膜）的膜厚定量分析，是采用本公司独立开发的，X 射线散 射理论计算结合 FP 法的「背景 FP 法」（以下简称 BG-FP 法）分析，得到较佳效果。此方法是根据树脂 薄膜的康普敦散射的强度与薄膜厚度成比例的原理，在大气氛围中，不仅是薄膜的厚度，而且其中的元 素成分也能定量分析。
■样品：
厚 6μm、12μm、25μm 的聚乙烯薄膜 ·
厚 200μm 的含无机元素聚酯薄膜
■定性分析-膜厚测定:
BG-FP 法是用测定 X 光管靶（Rh）的特征 X 射线， 产生的康普顿散射来进行树脂薄膜厚度的定量分析。图 1 为 3 种不同膜厚的聚酯薄膜的 RhKα康普顿散射线峰的 重叠显示。薄膜厚度越大，RhKα康普顿散射强度越大。 表 1 为利用 BG-FP 法的膜厚定量分析结果。
计算膜厚必须知道薄膜密度。聚酯的密度为 1.39g/cm3。另外，假定薄膜成分为 C8H10O4。
膜厚·成分同时定量分析 含 Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn 的聚酯膜的膜厚及元素含量进行定量分析。 图 2 为定量分析的峰形，以此结果为根据，利用 BG-FP 法计算出定量值，用面积密度 （30mmΦ）的换算值与标准值一并列入表 2。
■测定条件
仪 器：EDX-720
X 射线管：Rh 靶 滤 光 片：不用 电压
电流：50kV-77μA(Auto) 50kV-446μA(Auto) 气 氛：真空
